進行動態(tài)平板載荷試驗主要應(yīng)用于土方工程和交通道路建設(shè)。

Evd 動態(tài)變形模量測試儀用于測量土壤的承載能力、土壤和非膠結(jié)路面基層的壓實度，改善土壤的質(zhì)量。此測試方法適用于粒徑 63 mm 的粗顆粒土及混合顆粒土。也適用于土壤的動態(tài)變形模量

Evd的測量，測量范圍為 Evd = 15~70 MN/m2 。
其他應(yīng)用
* 道路建設(shè)
* 路面墊層的測試
* 修建渠道時的質(zhì)量保證
* 管道和電纜溝槽的壓實監(jiān)測
* 基礎(chǔ)回填
* 鐵路建設(shè)
便攜和易于操作的特點使 Evd儀尤其適用于公司內(nèi)部的質(zhì)
量監(jiān)測。
Evd 儀相對于平板壓力測試儀的優(yōu)點
* 測量時間短，單個測量數(shù)據(jù)評估迅速
* 可以測量狹小和不易到達的位置
* 重量輕
* 無須車輛加載
用 戶 信 息
本操作手冊的宗旨是使用戶能非常容易地熟悉 Evd
儀（輕型落錘儀，縮寫為 LFG，以下簡稱為 LFG）的使用方法，并利用 LFG 實現(xiàn)用戶的應(yīng)用目標。
在使用 LFG 之前，用戶應(yīng)先仔細閱讀本操作手冊和安全注意事項。
標志說明
以下標志符號起警告和提示作用：
此標志符號與相關(guān)的文字一起出現(xiàn)，提示用戶應(yīng)注意此處可能存在造成
儀器元件故障或影響操作程序的危險。
此標志符號和相關(guān)的文字一起出現(xiàn)，指明技術(shù)要求，并提供用戶必須考
慮的補充信息。

還適用于高速鐵路基床表層及過渡段級配碎石的Evd檢測，新建鐵路、既有鐵路提速改造的K30檢測，以及應(yīng)用于公路、機場、城市交通、港口、工民建及工業(yè)等各種地基基礎(chǔ)檢測

特　　點：

體積小，重量輕便于攜帶--總重量35公斤
安裝、拆卸方便、操作簡單--一人便可操作
自動化程度、測試速度快——一次測試只需3分鐘
性能穩(wěn)定、可靠、精度——采用良好的傳感技術(shù)
環(huán)保型產(chǎn)品、已人為本——無輻射、廢氣等污染

儀 器 構(gòu) 造
LFG 由以下幾部分組成：
* 加載裝置
* 荷載板
* 電子沉陷測定儀
加載裝置和荷載板
加載裝置和承載板的詳細構(gòu)造見右圖及下表：
加載裝置

1 – 手柄
2 – 氣泡水平儀

3 – 掛（脫）鉤裝置

4 – 導(dǎo)向桿
5 – 落錘

6 – 搬運鎖

7 – 阻尼裝置

荷載板

8 – 傳感器/傳感器罩
9 – 傳感器插孔 （連接測試電纜用）
10 – 荷載板搬運手柄
荷載板的傳感器罩（8）的下方是傳感器，用于測定沉陷值。傳感器經(jīng)傳感 器插孔引出，通過一根測試電纜與電子沉陷測定儀連接。
電子沉陷測定儀
以普通電池為電源的沉陷測定儀被設(shè)計成一個可手持的盒式結(jié)構(gòu)。
沉陷測定儀
1 – LCD 液晶顯示屏
2 – 連接測試電纜的插孔
3 – 功能鍵 ：從上到下依次為 .電源開關(guān) . 選擇鍵 .確認鍵
4 – 連接打印機 / PC 的插孔
便攜手提箱
1 – 便攜手提箱
2 – 沉陷測定儀（在下方有 12 V 車用充電電纜）
3 – AP 1300 小型打印機充電器（可選配）
4 – AP 1300 小型打印機 （可選配）

測試
* 自動記錄測試循環(huán)的數(shù)據(jù)。
* 顯示三個沉陷值；自動計算平均沉陷值和動態(tài)變形模量 Evd 值。
* 顯示三個變形速度值；自動計算平均值、沉陷與變形速度的比值。
 

儲存
* 顯示儲存的沉陷值。
* 每個測試序列的三個單獨的沉陷值、平均沉陷值，動態(tài)變形模量 Evd 值。
* 每個測試序列的三個變形速度值、平均變形速度值，平均沉陷與變形速度的比值。
* 在小型打印機上打印結(jié)果。

   時鐘 / 日期
* 修改當前的時鐘和日期。

   充電電池
* 顯示測定儀和打印機充電電池的工作狀態(tài)。
儀 器 功 能
將荷載板放在預(yù)定的測試點上，加載裝置放在荷載板上。然后，連接沉陷測
定儀。當落錘被釋放時，落錘落到阻尼裝置上，加載裝置產(chǎn)生了一定的沖擊
類荷載，造成荷載板下方土壤的整體沉陷，從而可以將沉陷值測量出來。
測量程序啟動后，將進行三次沖擊測試。在每次沖擊后，沉陷測定儀會將沉
陷值用毫米為單位顯示出來。一個測試循環(huán)結(jié)束后，可以得出平均沉陷值和
動態(tài)變形模量值，并在顯示屏上顯示出來。
如果需要，可以通過小型打印機或 PC 連接的打印機將測試結(jié)果打印出來。

技術(shù)指標：

外觀尺寸：210mmx80mmx25mm
存儲量：200組測試曲線